第４８巻第４号目次

小特集「表面化学分析，マイクロビーム分析の定量規格化」

　　　　　　　　　　−会議報告−

表面化学分析の国際標準化の動向----------------吉原一紘

　　　　　　　　　　−解　　説−

表面化学分析における国際標準化　−一般的手順および
　データの管理と処理−----------------------古川洋一郎

深さ方向分析法に関する国際標準化と国内活動
　----------------------------------鈴木峰晴・井上雅彦

オージェ電子分光法，Ｘ線電子分光法による表面定量
　分析の国際標準化----------------------------田沼繁夫

二次イオン質量分析法の国際標準化--------------本間芳和

全反射蛍光X線分析法(TXRF)によるシリコンウエーハ

　上の微量金属不純物定量分析の国際標準化------合志陽一
マイクロビームアナリシスの国際標準化(ISO/TC202)の動向
　----------小林  尚・村山順一郎・斉藤昌樹・奥村豊彦・
　　　　　　　　　　　　丹羽直昌・大堀謙一・梅原博行・
　　　　　　　　　　　　田中幸基・源内則夫・日野谷重晴

一般論文
　　　　　　　　　　−研　　究−

自作電子衝撃加熱装置による高融点チタン金属の真空蒸発 
　--------------堀尾吉已・原裕一郎・山本宜孝・森本裕樹

ミニチュア円筒鏡型分析器(CMA)を用いた脱離イオンの
　運動エネルギー分布測定　−凝縮H2Oの内核励起誘起H+
　脱離研究への応用−----間瀬一彦・立花隆行・小林英一・
　　　森　正信・八木秀樹・奥平幸司・上野信雄・荒川一郎

　　　　　　　　　　−会議報告−

第10回電子遷移誘起脱離に関する国際ワークショップ
　--------------------------------------------荒川一郎

第21回真空中における放電と絶縁に関する国際会議(ISDEIV)
　------------------------------臼井健太朗・稲川諭李彦


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